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公开了一种均匀沉积有机层的方法。由于有机层非常薄，对目标厚度的任何偏差都将导致可以看出的光缺陷。在有机层的下面提供对有机材料显示良好涂覆性能的均质层（２７５）。通过覆盖金属内部连接（２０５），减少或防止了对聚合物层均匀性的不良影响。...
该专利属于奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司授权不得商用。

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