下载用于检测衬底位置/存在的共用传感器的技术资料

文档序号:3200218

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一种半导体处理工具的转送室被设计成可与多个处理和/或负载锁定室相耦合。数量较少的衬底传感器被提供至该转送室中用以确认衬底的存在和/或衬底相对于该处理室和/或负载锁定室的位置。在一实施例中,每一处理室和/或负载锁定室可与相邻的室及不相邻的室共...
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