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本发明是有关于一种测量占空比的方法，该方法快到足以能够在制造过程中对半导体元件的占空比进行测量。使用数字通道中的比较在信号周期中以多点感测输入信号的状态。测试仪内的失败处理电路被用于对输入信号为逻辑ＨＩ状态的样本的数量进行计数。该值被采用的...
该专利属于泰瑞达公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰瑞达公司授权不得商用。

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