下载形成具有高迁移率的金属/高K值栅叠层的方法的技术资料

文档序号:3197779

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本发明提供了一个具有高迁移率和低界面电荷的栅叠层结构以及半导体器件,即包括该结构的金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)。在半导体器件中,本发明的栅叠层结构位于衬底和一个覆盖的栅导体之间。本发明还提供了一个制造本发明栅叠层结构的方法,...
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