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CMOS图像传感器及其制造方法技术
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文档序号:3193501
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公开了CMOS图像传感器及其制造方法,其中杂质离子区形成在半导体基片中以形成光电荷的转移路径,从而同时改善死区特性和暗电流特性。CMOS图像传感器包括:第一传导型半导体基片,由有源区和装置隔离区限定;装置隔离膜,形成在对应于所述装置隔离区的...
该专利属于东部亚南半导体株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东部亚南半导体株式会社授权不得商用。
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