下载高密度开关卡的技术资料

文档序号:31929884

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本实用新型涉及PCB测试技术领域,特别涉及高密度开关卡,双密度测试头电连接于AB30S固态继电器,AB30S固态继电器电连接于M876单片机,M876单片机通过上位机接口连接于上位机,M876单片机包括M876芯片U3和M876芯片U4,M...
该专利属于深圳加都佳电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳加都佳电子科技有限公司授权不得商用。

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