温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型涉及PCB测试技术领域，特别涉及高密度开关卡，双密度测试头电连接于AB30S固态继电器，AB30S固态继电器电连接于M876单片机，M876单片机通过上位机接口连接于上位机，M876单片机包括M876芯片U3和M876芯片U4，M...
该专利属于深圳加都佳电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳加都佳电子科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。