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一种用于预处理过程和基于环境的电路性能变量的测量的晶片上方法和装置，所述方法和装置提高了产出／性能测试和分析的容许能力。晶片上电路计算一个或多个测量电路的输出的多个幂的和，从而在不丢失对所述分析有价值的信息的情况下减少了必须从所述晶片传输的...
该专利属于国际商业机器公司所有，仅供学习研究参考，未经过国际商业机器公司授权不得商用。

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