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本发明提出一种IGBT最小死区时间的试验确定方法，包括：在空载情况下给上IGBT和下IGBT施加控制信号，将两控制信号的死区时间逐渐减小，直至出现直通电流，此时的两控制信号的死区时间即为空载下的最小死区时间T
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该专利属于荣信汇科电气股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过荣信汇科电气股份有限公司授权不得商用。

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