一种IGBT最小死区时间的试验确定方法技术

技术编号:31915233 阅读:29 留言:0更新日期:2022-01-15 12:57
本发明专利技术提出一种IGBT最小死区时间的试验确定方法,包括:在空载情况下给上IGBT和下IGBT施加控制信号,将两控制信号的死区时间逐渐减小,直至出现直通电流,此时的两控制信号的死区时间即为空载下的最小死区时间T

【技术实现步骤摘要】
一种IGBT最小死区时间的试验确定方法


[0001]本专利技术涉及IGBT控制
,特别涉及一种IGBT最小死区时间的试验确定方法。

技术介绍

[0002]IGBT作为电力电子行业中常用的换流器件,其应用越来越多。但由于IGBT并不是理想的开关器件,其开通时间和关断时间不完全一致。图1所示为典型死区时间示意图,为了避免IGBT桥臂发生直通,通常需要在控制策略中加入“死区时间”的限制,即其中一个IGBT首先关断,经过“死区时间”后,再开通另外一个IGBT。这样便可以避免由于开通时间和关断时间不一致造成的直通现象。
[0003]虽然死区时间可以避免桥臂直通,但会带来不利影响。一般情况下,在死区时间内,桥臂输出的电压极性将不受控制,而是取决于电流方向。这对一些应用来讲,系统将变得不稳定。
[0004]为了合理的设置死区时间,目前业界采用的方法主要是计算的方式,计算公式为:
[0005]t
DT
=[(t
d(off),max
+t
f,max

t
d(on本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IGBT最小死区时间的试验确定方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:按照实际应用方式,搭建空载测试回路;步骤2:在空载情况下,利用充电柜给被试单元充电,直到达到测试所需电压,给在同一桥臂的上IGBT和下IGBT施加控制信号,将两控制信号的死区时间逐渐减小,监控上IGBT和下IGBT的电流,直至出现直通电流,出现直通电流时的两控制信号的死区时间即为空载下的最小死区时间T
死区

空载
;步骤3:按照实际应用方式,搭建带载测试回路;步骤4:在带载运行工况下,利用充电柜给被试单元和陪试单元充电,直到达到测试所需电压,按照所需负载,给被试单元的上IGBT T1、下IGBT T2,陪试单元的上IGBT T3、下IGBT T4施加控制信号,逐渐减小死区时间,直至出现被试单元的上IGBT T1的电流IT1、下IGBT T2的电流IT2都有异常的直通电流,记录此时两控制信号的死区时间为T
死区

带载
;步骤5:考虑安全裕量,计算实际使用死区时间:T
死区
=A*Max(T
死区

空载

【专利技术属性】
技术研发人员:罗代军王琦廖湘蔡熹杨年浩仝博宾余琼周见豪刘海鑫
申请(专利权)人:荣信汇科电气股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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