专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
联华电子股份有限公司
>
形成接触窗开口的蚀刻方法技术
>技术资料下载
下载形成接触窗开口的蚀刻方法的技术资料
文档序号:3190231
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种形成接触窗开口的蚀刻方法。提供具有至少例如栅极结构的一元件的基底,基底上依序形成有一金属硅化物层、一保护层、一间介电层、一掩模层与一图案化的光致抗蚀剂层。蚀刻形成接触窗开口的过程中,因金属硅化物层被保护层所覆盖且光致抗蚀剂去除步骤于移除...
该专利属于联华电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联华电子股份有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。