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本发明涉及摄像机所获取的激光标记图像的方法和设备，以使具有浅蚀刻激光标记的图像高对比度和低背景干扰成分，适于被元件检查系统检查。所述方法包括以下步骤：以相对于水平面的一低角度照射所述半导体封装件表面，利用摄像机以大约所述低角度获取从所述半导...
该专利属于维视机动私人有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过维视机动私人有限公司授权不得商用。

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