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本实用新型公开了一种薄膜厚度测试治具，包含：下托片，用于承载薄膜；上托片，用于覆盖在薄膜上方，设有若干条第一刻度线，所述的第一刻度线将上托片分为若干区域；下托片与上托片均透明或半透明；固定装置，用于固定测试状态下所述上托片和所述下托片的相对...
该专利属于航天氢能（上海）科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过航天氢能（上海）科技有限公司授权不得商用。

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