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集成电路测试卡制造技术
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文档序号:3183803
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一种集成电路测试卡,包含:一电路板,多数个接触焊点;一探针组件,一电讯转接板及多数个探针,该电讯转接板界定出电气导通的一第一电讯面及一与之相背的第二电讯面,各探针电气导通于第一电讯面上,第二电讯面与接触焊点电气导通;至少一转向固定组件,一调...
该专利属于旺矽科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过旺矽科技股份有限公司授权不得商用。
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