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在构成大容量ＤＲＡＭ作为硬核的情况下，随着工艺细微化，防止与控制电路群的细微化相伴的比例不均衡引起的面积效率、性能、布线效率降低的因素。存储阵列区域与控制区域接触，并且，从平面上看以凸形配置。由此，在大容量的ＤＲＡＭ等存储器中，能够得到设计...
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