下载形成集成电路的方法的技术资料

文档序号:3179908

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本发明涉及一种形成集成电路的方法,包括:在半导体衬底表面上限定多个突出部分,该突出部分具有最小高度;在该衬底表面上方提供图案层;从预定衬底部分移除部分该图案层;执行离子注入程序,使该离子相对于所述衬底表面的角度小于90度,其中该离子是由该图...
该专利属于奇梦达股份公司所有,仅供学习研究参考,未经过奇梦达股份公司授权不得商用。

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