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本发明公开了一种基于单一标准FRET质粒测量FRET系统矫正参数的方法及其应用。本发明方法仅需对转染了一种标准FRET质粒的细胞进行三通道荧光成像，通过物理分析与数学计算方程，即可计算得到FRET系统矫正参数β，λ，G因子和k因子，将原本至...
该专利属于华南师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南师范大学授权不得商用。

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