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一种在叠层介质层中形成沟槽的方法,包括:在一半导体基底上形成第一介质层;在所述第一介质层中形成第一开口;在所述第一开口中填充第一牺牲层;在所述第一介质层上至少形成一第二介质层,并在所述第二介质层中形成第二开口,所述第二开口位于所述第一开口上...该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。
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