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一种微处理器IO口检测装置及检测方法制造方法及图纸
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文档序号:31760218
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本发明公开了一种微处理器IO口检测装置及检测方法,装置包括可拆卸双通道检测单元和可拆卸金属电压探针;所述可拆卸双通道检测单元包括两路检测通道、PCB封装板和∞型导电卡扣;每路检测通道均包括依次连接的金属插片、贴片LED、贴片电阻和导电铜柱;...
该专利属于核工业西南物理研究院所有,仅供学习研究参考,未经过核工业西南物理研究院授权不得商用。
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