一种微处理器IO口检测装置及检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种微处理器IO口检测装置及检测方法，装置包括可拆卸双通道检测单元和可拆卸金属电压探针；所述可拆卸双通道检测单元包括两路检测通道、PCB封装板和∞型导电卡扣；每路检测通道均包括依次连接的金属插片、贴片LED、贴片电阻和导电铜柱；所述金属插片的自由引出端用于插入检测对象的IO口，所述导电铜柱还用于连接所述∞型导电卡扣和可拆卸金属电压探针；所述PCB封装板用于封装两路所述检测通道；所述∞型导电卡扣用于将一个可拆卸双通道检测单元与另一个可拆卸双通道检测单元连接，实现任意多个IO口的同时检测。本发明专利技术可实现对任意数量IO口信号的快速检测，结构简单、易于实现，成本低。成本低。成本低。

【技术实现步骤摘要】
一种微处理器IO口检测装置及检测方法


[0001]本专利技术属于电路信号检测
，具体涉及一种微处理器IO口检测装置及检测方法。

技术介绍

[0002]1971年诞生了世界上第一台微处理器4004，只能处理4位数据。但是随着半导体技术的飞速发展，微处理器的集成度以及集成规模越来越高。到目前为止，常见的微处理有32位和64位。随着处理器的集成度的提高，其输入输出端口数量也随之增加，相应的数据信号检测也更加困难，主要表现在两方面：一、IO口信号检测成本变高，一般需要造价昂贵的数据观测仪对其分析；二、对IO口信号检测显得不灵活，需要借助大型设备对其检测。

技术实现思路

[0003]针对现有检测技术存在的检测成本高和灵活性低等问题，本专利技术提供了一种一种微处理器IO口检测装置。本专利技术可实现对任意数量IO口信号的快速检测，结构简单、易于实现，成本低。
[0004]本专利技术通过下述技术方案实现：
[0005]一种微处理器IO口检测装置，包括可拆卸双通道检测单元和可拆卸金属电压探针；
[0006]所述可拆卸本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微处理器IO口检测装置，其特征在于，包括可拆卸双通道检测单元和可拆卸金属电压探针；所述可拆卸双通道检测单元包括两路检测通道、PCB封装板(5)和∞型导电卡扣(8)；其中，每路检测通道均包括依次连接的金属插片(1)、贴片LED(2)、贴片电阻(3)和导电铜柱(4)；所述金属插片(1)的自由引出端用于插入检测对象的IO口，所述导电铜柱(4)还用于连接所述∞型导电卡扣(8)和可拆卸金属电压探针；且两路检测通道中的导电铜柱(4)连接；所述PCB封装板(5)用于封装两路所述检测通道；所述∞型导电卡扣(8)用于将一个可拆卸双通道检测单元与另一个可拆卸双通道检测单元连接，实现任意多个IO口的同时检测。2.根据权利要求1所述的一种微处理器IO口检测装置，其特征在于，所述∞型导电卡扣(8)包括右半部分可收缩开口铜圈(801)和左半部分可收缩开口铜圈(802)；所述右半部分可收缩开口铜圈(801)固定住一个所述可拆卸双通道检测单元的导电铜柱(4)，所述左半部分可收缩开口铜圈(802)固定住另一个所述可拆卸双通道检测单元的导电铜柱(4)，从而实现连接两个所述可拆卸双通道检测单元。3.根据权利要求2所述的一种微处理器IO口检测装置，其特征在于，所述右半部分可收缩开口铜圈(801)和左半部分可收缩开口铜圈(802)为等半径开口铜圈。4.根据权利要求1所述的一种微处理器IO口检测装置，其特征在于，包括N个所述可拆卸双通道检测单元和N
‑
1个所述∞型导电卡扣(8)；通过N
‑
1个所述∞型导电卡扣(8)将N个所述可拆卸双通道检测单元级联连接；其中，N为大于等于2的正整数。5.根据权利要求1所述的一种微处理器IO口检测装置，其特征在于，所述可拆卸金...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋敏，张婉婷，
申请(专利权)人：核工业西南物理研究院，
类型：发明
国别省市：