下载存储器单元及其制造方法的技术资料

文档序号:3175525

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本发明涉及一种存储器单元(10),包括:电阻结构(1),和连接至电阻结构(1)的至少两个电极(2),其中:电阻结构(1)包括氢,和电阻结构(1)包括显示出至少10↑[-8]cm↑[2]/V↓[S]的氢离子迁移率值的材料。...
该专利属于国际商业机器公司所有,仅供学习研究参考,未经过国际商业机器公司授权不得商用。

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