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封装导电结构及其形成方法技术
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文档序号:3173200
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本发明是一种用于半导体基材的封装导电结构及其形成方法,封装导电结构的介电层局部覆盖半导体基材的金属层,并界定出一容置空间,容置空间内形成一垫高层及一导电层,导电层延伸连接凸块,而垫高层部分连接于介电层,使导电层在介电层边缘的沉积较为稳定,进...
该专利属于南茂科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过南茂科技股份有限公司授权不得商用。
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