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一种芯片模块测试装置制造方法及图纸
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下载一种芯片模块测试装置的技术资料
文档序号：31725718
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本实用新型公开了一种芯片模块测试装置，包括控制底盒(1)，设置在控制底盒(1)上的测试台(6)和压紧装置，其特征在于，所述测试台(6)通过弹性件安装在控制底盒(1)上，且该测试台(6)可上下移动，测试台(6)的下台面上设置有限位块(6
该专利属于成都思科瑞微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都思科瑞微电子股份有限公司授权不得商用。
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