专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
美光科技公司
>
用于成像器的垂直抗溢出控制和串扰减少的埋入式掺杂区制造技术
>技术资料下载
下载用于成像器的垂直抗溢出控制和串扰减少的埋入式掺杂区的技术资料
文档序号:3171208
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供一种在衬底(30)中具有经图案化埋入式掺杂区(33)的固态成像器装置(20),所述掺杂区优选为n+掺杂区,其在固态成像器装置中收集多余电子,且因此减少串扰,最小化多余电子的溢出并减少暗电流,且本发明提供一种相应的制造方法。...
该专利属于美光科技公司所有,仅供学习研究参考,未经过美光科技公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。