专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
NXP股份有限公司
>
用于晶圆片级芯片尺寸封装的再分布层及其方法技术
>技术资料下载
下载用于晶圆片级芯片尺寸封装的再分布层及其方法的技术资料
文档序号:3171206
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
在示范性实施例中,提供了一种将具有电路图形(305)的集成电路器件(IC)封装在晶圆级芯片尺寸(WLCS)封装(300)中的方法。该方法包括在第一电介质层(315)上沉积(5,10,15)金属层,以及对键合焊盘开口(310)和凸点焊盘开口(...
该专利属于NXP股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过NXP股份有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。