下载用于晶圆片级芯片尺寸封装的再分布层及其方法的技术资料

文档序号:3171206

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在示范性实施例中,提供了一种将具有电路图形(305)的集成电路器件(IC)封装在晶圆级芯片尺寸(WLCS)封装(300)中的方法。该方法包括在第一电介质层(315)上沉积(5,10,15)金属层,以及对键合焊盘开口(310)和凸点焊盘开口(...
该专利属于NXP股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过NXP股份有限公司授权不得商用。

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