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本发明公开了射频器件试验方法及装置，涉及器件可靠性试验领域，所述方法包括：将待试验射频器件1至待试验射频器件n按照其编号顺序依次连接，将射频激励信号复用，编号相邻的2个所述待试验射频器件之间的连接方式为：编号排序在前的所述待试验射频器件的射...
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