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半导体处理用的成膜方法和装置制造方法及图纸
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文档序号:3169609
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本发明提供一种半导体处理用成膜方法和装置。在能够选择性地供给包括硅烷气体的第一处理气体和包括氮化气体的第二处理气体的处理区域内进行多个循环,在被处理基板上形成氮化硅膜。各循环包括:进行第一处理气体的供给,另一方面,维持遮断第二处理气体的供给...
该专利属于东京毅力科创株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东京毅力科创株式会社授权不得商用。
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