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本发明属于电子电路系统测试测量领域，具体提供一种带水冷结构的可重复使用的微波芯片测试夹具，用以解决现有微波芯片测试夹具存在的适用性差、易造成芯片损坏、散热效果差等问题。本发明测试夹具采用可拆卸的芯片载体，通过金丝跳线连接芯片和电路板，通过更...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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