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中芯国际集成电路制造上海有限公司
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穿透式电子显微镜试片的制备方法技术
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文档序号:3154652
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一种穿透式电子显微镜试片的制备方法,至少包含: 提供具有一第一孔洞的一第一基板,且该第一孔洞的开口位于该第一基板的一第一侧壁; 以一胶合材料粘合该第一侧壁与一第二基板; 超音波震荡该第一基板及该第二基板; 将该第一基...
该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。
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