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本公开涉及一种发光二极管支架的缺陷检测方法及装置、设备和介质。所述方法包括：获取发光二极管支架的待检测图像；确定所述待检测图像中的关键区域；基于所述关键区域，确定所述待检测图像中的潜在缺陷区域；对所述潜在缺陷区域进行缺陷检测，得到所述待检测...
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