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本发明公开了一种痕量元素X射线荧光测定方法、装置、电子设备及介质，所述方法包括：获取光谱仪采集标准物质获得的荧光光谱数据集，所述光谱仪的X光管与标准物质之间设置有一薄片，所述薄片为能抑制堆积脉冲的金属片；利用背景散射内标法对所述荧光光谱数据...
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