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本发明涉及一种集成电路和包括集成电路的系统。描述了利用输入和/或输出包装器链内的内部状态机驱动的逻辑元件(例如，触发器)的集成电路，该输入和/或输出包装器链用于对集成电路的内部核心逻辑进行测试。集成电路内的包装器链中的一个或多个单独逻辑元件...
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