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为了提供能量分散型辐射探测系统和测量目标元素的含量的方法，所述方法能够通过抑制堆积的影响确定构成探测的最佳最小极限的入射辐射的强度来执行测量，该能量分散型辐射探测系统包括用于以预定强度将入射辐射照射到样品的入射系统，和用于通过照射入射辐射探...
该专利属于精工电子纳米科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过精工电子纳米科技有限公司授权不得商用。

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