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本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片寄存器提取及测试方法，所述方法包括使用perl编写脚本，调用ActivePerl提供的OLE接口，根据寄存器表格使用正则表达式依次去匹配对应的关键字，从而提取一个寄存器的关键信息；再根据提取的寄存...
该专利属于芯河半导体科技（无锡）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯河半导体科技（无锡）有限公司授权不得商用。

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