一种芯片寄存器提取及测试方法技术

本发明专利技术涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片寄存器提取及测试方法，所述方法包括使用perl编写脚本，调用ActivePerl提供的OLE接口，根据寄存器表格使用正则表达式依次去匹配对应的关键字，从而提取一个寄存器的关键信息；再根据提取的寄存器的关键信息生成仿真平台可以直接运行的测试用例。本发明专利技术通过脚本提取寄存器内容，可以对寄存器功能进行全面测试，提高了芯片寄存器验证的效率。提高了芯片寄存器验证的效率。提高了芯片寄存器验证的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片寄存器提取及测试方法


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片寄存器提取及测试方法。

技术介绍

[0002]在芯片设计中，寄存器承担着软硬件交互的重要作用，主要体现在：
[0003](1)芯片复位后，保存触发器的默认值，软件读取后可获取硬件的初始状态；
[0004](2)解除复位后，保存软件下发的配置，用于改变硬件的工作模式；
[0005](3)提供debug信息，如统计，fifo状态，fsm状态，err监控等；
[0006](4)提供中断详细信息，便于cpu执行不同的中断处理程序；
[0007](5)提供软复位接口，将芯片从异常中跳出来；
[0008](6)保存软件配置表项，将软件定义的功能以硬件规则实现，降低cpu的负担，提高处理性能；
[0009]由上述分析可见，确保寄存器能被正确访问是很重要的。在芯片的设计比较复杂时，往往会有大量的配置寄存器和debu g寄存器，为了确保寄存器能够正常工作，需要验证工程师根据寄存器的定义对其进行读写测试，考虑到项目复杂度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片寄存器提取及测试方法，其特征在于：包括如下步骤：1)使用perl编写脚本，调用ActivePerl提供的OLE接口，根据寄存器表格的文件名、sheet名，row/columu数量，使用正则表达式依次去匹配对应的关键字，从而提取一个寄存器的关键信息；2)根据提取的寄存器的关键信息生成仿真平台可以直接运行的测试用例；3)测试用例包括：(1)检查寄存器的复位值；(2)测试寄存器的bit复位功能；(3)测试寄存器的bit置位功能；(4)测试寄存器是否存在bit粘连；(5)对寄存器的未知地址进行读写...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔帅，
申请(专利权)人：芯河半导体科技无锡有限公司，
类型：发明
国别省市：