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本发明公开了一种基于数控设备测高组件的测高方法与系统，涉及数控设备测高组件领域，其通过在待测组件的待测平面上通过预设定位机构驱动测高组件在数控设备坐标轴上移动，得到每次移动对应的预设移动距离；在每一次的移动过程中利用光电信号采集阵列获取若干...
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