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本实用新型涉及一种适用于多种电源类IC的老化试验装置。按照本实用新型提供的技术方案，所述适用于多种电源类IC的老化试验装置，包括位于老化箱内的老化板，在所述老化板上安装有若干待老化试验的电源类IC芯片；还包括与老化板的输出端适配连接的负载电...
该专利属于润石芯科技（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过润石芯科技（深圳）有限公司授权不得商用。

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