下载缺陷分析方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质的技术资料

文档序号:31455249

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

一种缺陷分析方法,所述缺陷分析方法包括:获取各制程站点各机台所经过的产品的基本信息;获取各制程站点各机台的生产因子信息;获取各缺陷检测站点所检测的产品的缺陷信息,所述产品在经过至少一个制程站点后经过所述缺陷检测站点;根据所述各制程站点各机台...
该专利属于鸿富锦精密电子(天津)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过鸿富锦精密电子(天津)有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。