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一种缺陷分析方法,所述缺陷分析方法包括:获取各制程站点各机台所经过的产品的基本信息;获取各制程站点各机台的生产因子信息;获取各缺陷检测站点所检测的产品的缺陷信息,所述产品在经过至少一个制程站点后经过所述缺陷检测站点;根据所述各制程站点各机台...该专利属于鸿富锦精密电子(天津)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过鸿富锦精密电子(天津)有限公司授权不得商用。
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