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本发明公开了一种半导体芯片的测试装置,具体涉及半导体芯片技术领域,包括测试平板,测试平板底面的左右两侧均固定安装有垫块,测试平板顶面的左端可拆卸安装有废品回收箱,测试平板顶面的右端可拆卸安装有成品收纳箱,测试平板顶面的中部镶嵌安装有测试筒座...该专利属于无锡市新逵机械设备有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡市新逵机械设备有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种半导体芯片的测试装置,具体涉及半导体芯片技术领域,包括测试平板,测试平板底面的左右两侧均固定安装有垫块,测试平板顶面的左端可拆卸安装有废品回收箱,测试平板顶面的右端可拆卸安装有成品收纳箱,测试平板顶面的中部镶嵌安装有测试筒座...