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本发明提供的可寻址测试芯片用开关电路，包括若干待测器件和若干开关，能通过控制所述开关的通断状态以选中指定的待测器件连通测试通路；相邻两个所述待测器件共享位于其中一个待测器件同一端的激励开关和感应开关；所述待测器件、其与相邻待测器件所共享的所...
该专利属于杭州广立微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州广立微电子股份有限公司授权不得商用。

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