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本发明涉及X射线测厚仪领域，且公开了一种新的X射线照射在待测物表面强度的调校方法。该一种新的X射线照射在待测物表面强度的调校方法，本发明通过精密可调电位器与准直器套筒高度调节旋钮通过带齿传动皮带相连接，可以换算出标准片表面和准直器套筒之间的...
该专利属于苏州艾克瑞特仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州艾克瑞特仪器有限公司授权不得商用。

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