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本实用新型公开了一种半导体检测用测试台，包括上检测盒和下箱体，所述上检测盒安装在下箱体的上端，所述上检测盒一侧设有凸型口，所述凸型口处安装有箱门，且箱门与上检测盒之间设有密封结构，所述测试台安装在滑动安装板上，所述滑动安装板滑动安装在固定座...
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