一种半导体检测用测试台制造技术

技术编号:31358019 阅读:33 留言:0更新日期:2021-12-13 09:15
本实用新型专利技术公开了一种半导体检测用测试台,包括上检测盒和下箱体,所述上检测盒安装在下箱体的上端,所述上检测盒一侧设有凸型口,所述凸型口处安装有箱门,且箱门与上检测盒之间设有密封结构,所述测试台安装在滑动安装板上,所述滑动安装板滑动安装在固定座上,所述固定座固定安装在上检测盒内,所述上检测盒底部位于固定座两侧分别设有吸气口和输气口,所述上检测盒两侧安装有转动连接件,本实用新型专利技术通过在上检测盒上只设置一个凸型口,其他采用一体式结构,并将凸型口处的箱门处安装两组橡胶垫圈组成的密封结构,箱门关闭时,两组橡胶垫圈紧密贴合,使得箱门与上检测盒之间密封性好,整个上检测盒具有良好的密封性。整个上检测盒具有良好的密封性。整个上检测盒具有良好的密封性。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体检测用测试台


[0001]本技术涉及半导体检测
,具体为一种半导体检测用测试台。

技术介绍

[0002]半导体(semiconductor),指常温下导电性能介于导体(conductor)与绝缘体(insulator)之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体是指一种导电性可受控制,范围可从绝缘体至导体之间的材料。今日大部分的电子产品,如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关连。
[0003]半导体在生产出来后,需要对其进行检测,在进行高低温测试时,为了避免半导体被加热高温度时出现氧化现象,会在半导体周围填充惰性气体,但是现有的半导体检测用测试台主要为多个板体的组装,使得密封效果差,密封效果差,容易造成惰性气体外漏,使得检测环境中的惰性气体减少,出现氧化反应,为此,我们提出一种半导体检测用测试台。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种半导体检测用测试台,以解决上述
技术介绍
中现有的半导体检测用测试台主要为多个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体检测用测试台,包括上检测盒(1)和下箱体(15),其特征在于:所述上检测盒(1)安装在下箱体(15)的上端,所述上检测盒(1)一侧设有凸型口(20),所述凸型口(20)处安装有箱门(21),且箱门(21)与上检测盒(1)之间设有密封结构,所述上检测盒(1)内设置有测试台(6),所述测试台(6)安装在滑动安装板(5)上,所述滑动安装板(5)滑动安装在固定座(4)上,所述固定座(4)固定安装在上检测盒(1)内,所述固定座(4)延伸至凸型口(20)处,所述滑动安装板(5)的一端连接箱门(21),所述上检测盒(1)底部位于固定座(4)两侧分别设有吸气口(8)和输气口(18),且吸气口(8)和输气口(18)设置有控制阀(9),所述上检测盒(1)两侧安装有转动连接件(2),所述转动连接件(2)上安装有显微镜(3),所述上检测盒(1)上端安装有八角台(7)。2.根据权利要求1所述的一种半导体检测用测试台,其特征在于:所述下箱体(15)内设有惰性气体储存罐(16),所述惰性气体储存罐(16)的一侧设置有干燥箱(14),所述干燥箱(14)的一侧设有抽气泵(12)。3.根据权利要求2所述的一种半导体检测用测试台,其特征在于:所述惰性气体储存罐(16)通过管道连接干燥箱(14),所述干燥箱(14)的一端连接回气管道(13),所述抽气泵(12)上连接抽气管道(11),所述抽气管道(11)和回气管道(13)与吸气口(8)...

【专利技术属性】
技术研发人员:张静赵浩陈博黎载红
申请(专利权)人:上海波汇科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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