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本发明涉及电子元件测试技术领域，特别是涉及测试装置。一种测试装置，用于测试电子元件，包括测试台及电路板，所述电路板与所述测试台电性连接；所述测试台上开设有进气孔、出气孔及气体流道，所述气体流道分别与所述进气孔及所述出气孔连通，气体能够从所述...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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