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本发明涉及一种电池片的SE线和金属栅线套印异常的预测方法和电子设备，其中方法包括：通过采集待测硅片的表面的第一定位点的信息和第二定位点的信息，并根据第一定位点的信息和第二定位点的信息确定待测硅片的位置，然后基于待测硅片的位置检测待测硅片的起...
该专利属于晶澳太阳能有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过晶澳太阳能有限公司授权不得商用。

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