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本发明的分析装置能够以小型的装置检测试样的对象元素的价数以及该试样的结晶性。分析装置(100)具备配置试样S的试样支架(110)、对试样S照射X射线的X射线源(11)、检测因X射线的照射而从试样S发出的特征X射线的第1检测器(141)、检测...
该专利属于株式会社岛津制作所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社岛津制作所授权不得商用。

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