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分析装置(1)例如具备传感器(2)、分析部(4)、分析部(5)、分析部(6)以及统合部(7)。分析部(5)将由分析部(4)取得的谱图分割成多个频带,对多个频带分别取得频带强度时间序列。分析部(6)取得与频带强度时间序列分别对应的强度谱图。统...该专利属于三菱电机大楼技术服务株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三菱电机大楼技术服务株式会社授权不得商用。
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分析装置(1)例如具备传感器(2)、分析部(4)、分析部(5)、分析部(6)以及统合部(7)。分析部(5)将由分析部(4)取得的谱图分割成多个频带,对多个频带分别取得频带强度时间序列。分析部(6)取得与频带强度时间序列分别对应的强度谱图。统...