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一种芯片测试治具、系统、方法、装置及计算机可读存储介质，所述芯片测试治具，包括：测试板，所述测试板上设置有芯片放置区域，所述芯片放置区域设置有测试触点及真空孔，其中：所述真空孔用于连接抽真空装置，以通过所述真空孔内的真空吸力将待测试芯片吸附...
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