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本发明公开了一种芯片翘曲变形量计算方法、装置、终端设备及介质，其中所述方法包括：获取摄像头模组的几何模型；对所述摄像头模组的几何模型进行翘曲变形量计算，得到所述摄像头模组中成像芯片的翘曲变形量。采用本发明，能准确、便捷地计算出摄像头模组中成...
该专利属于昆山丘钛微电子科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆山丘钛微电子科技股份有限公司授权不得商用。

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