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本发明公开了一种脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置及方法，属于脉冲功率技术测量领域，具有吸收辐射场内的电子和测量辐射场内光子数与电子数之比的功能，包括二极管、真空实验腔、实验腔后端盖板及剂量测量系统和电流测量系统。二极管与真空实...
该专利属于西安交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安交通大学授权不得商用。

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