脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置及方法，属于脉冲功率技术测量领域，具有吸收辐射场内的电子和测量辐射场内光子数与电子数之比的功能，包括二极管、真空实验腔、实验腔后端盖板及剂量测量系统和电流测量系统。二极管与真空实验腔连接为一体，实验腔后端盖板密封连接真空实验腔，剂量测量系统测量脉冲X射线的剂量分布；电流测量系统测量辐射场内电子；由剂量和能谱计算得到光子数，电流计算得到电子数，获得光子数与电子数之比。本发明专利技术在吸收辐射场中电子的同时对光子影响较小，有效减小了脉冲X射线效应试验中电子的干扰，建立了辐射场内的光子数与电子数之比测量系统，有助于后续试验中对脉冲X射线效应进行更准确的分析。X射线效应进行更准确的分析。X射线效应进行更准确的分析。

【技术实现步骤摘要】
脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置及方法


[0001]本专利技术属于脉冲功率技术测量领域，涉及一种对脉冲X射线辐射场内电子的吸收结构和辐射场内的光子数与电子数之比测量装置及方法。

技术介绍

[0002]脉冲X射线一般由真空二极管产生，高压脉冲加载到二极管，阴极发射电子，在二极管间隙中通过电场加速，轰击阳极转换靶。电子接近靶材料原子核时速度迅速降低，发生轫致辐射形成脉冲X射线，并有少量电子穿透阳极靶。阳极靶材料原子序数越大，靶的转换效率越高，产生脉冲X射线的强度越高。因此，一般选用高原子序数的金属材料作为转换靶。现有技术中，开展系统电磁脉冲效应、生物效应等研究时，效应物会受到光子和电子的共同作用，难以区分脉冲X射线的影响。因此，需要一种辐射场内的电子吸收结构，减少辐射场内的电子，且对光子的影响尽量小，以便后续脉冲X射线效应试验的开展。
[0003]为了评价脉冲X射线辐射场中光子与电子的占比，区分电子与光子对效应物的影响，需要测量光子数与电子数，为后续试验中更准确分析脉冲X射线效应提供支持。
专利技术内容
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置，其特征在于，包括真空实验腔(8)以及与真空实验腔(8)呈一体设计的二极管(1)，所述二极管(1)设置在真空实验腔(8)的一端，真空实验腔(8)的另一端设有用于密封的实验腔后端盖板(9)，在真空实验腔(8)内还设有剂量测量系统和电流测量系统的罗氏线圈(16)，且剂量测量系统嵌设在电流测量系统的罗氏线圈(16)内侧，罗氏线圈(16)与剂量测量系统同轴且均垂直于脉冲X射线方向设置；所述剂量测量系统包括剂量片支架底板(10)、盖板(11)、剂量片(13)和支撑底座(14)；剂量片(13)端面朝向脉冲X射线入射方向，放置在剂量片支架底板(10)上由盖板(11)固定，支撑底座(14)嵌设在罗氏线圈(16)内，剂量片支架底板(10)固定在支撑底座(14)上。2.根据权利要求1所述的脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置，其特征在于，所述二极管(1)包括真空绝缘隔板(2)、阴极支座(3)、二极管阴极(4)和二极管阳极复合靶及固定结构(15)；其中，阴极支座(3)与真空绝缘隔板(2)相连，阳极转换靶及固定结构(15)与真空实验腔(8)相连，二极管阴极(4)设置在阴极支座(3)上，高压脉冲从二极管阴极(4)输入。3.根据权利要求2所述的脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置，其特征在于，所述二极管阳极复合靶及固定结构(15)包括金属转换靶(5)、聚乙烯膜、聚乙烯膜压环(6)和金属转换靶固定结构(7)；金属转换靶固定结构(7)压紧并拉平金属转换靶(5)，聚乙烯膜压环(6)将聚乙烯膜固定在金属转换靶(5)外侧。4.根据权利要求1所述的脉冲X射线辐射场内的光子数与电子数之比测量装置，其特征在于，所述剂量片(13)为氟化锂热释光探测器，氟化锂热释光探测器辐照区直径为4.5mm且厚度为0.8mm，其测量范围为10μGy
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10Gy。5.根据权利要求1所述的脉冲X射线辐射场内的光子数...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢彦召，吕泽琦，陈晓宇，苟明岳，
申请(专利权)人：西安交通大学，
类型：发明
国别省市：